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CEM3000系列毫米級景深掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。此外，該系列臺式電...

CEM3000系列臺式能譜掃描電子顯微鏡憑借其簡便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+...

CEM3000系列桌面式能譜掃描電鏡操作系統簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾...

國產chotest共聚焦顯微鏡VT6000系列以轉盤共聚焦光學系統為基礎，結合高穩定性結構設計和3D重建算法，共同組成測量系統，主要用于對各種精密器件及材料表面...

SuperViewW系列白光干涉3d表面形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干...

CEM3000國內自研高分辨率掃描電鏡操作系統簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短...

CEM3000系列chotest臺式鎢燈絲掃描電鏡在工業領域展現出廣泛的應用價值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足...

CEM3000系列桌面式多功能實時能譜掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調節。超高分辨率優于4nm(SE)，優于8nm(BSE)@20kV，超大景...

NS系列探針式薄膜厚度臺階儀廣泛應用于半導體、光伏、MEMS、光學加工等領域。通過2μm金剛石探針與LVDC傳感器的協同工作，結合亞埃級分辨率（5 Å...

CEM3000系列納米級成像高分辨掃描電鏡操作系統簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在...

NS系列薄膜臺階測厚儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率，同時，其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心...

CEM3000系列中圖儀器高分辨率掃描電鏡操作系統簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在...

CEM3000簡單易操作超高分辨率掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調節。超高分辨率優于4nm(SE)，優于8nm(BSE)@20kV，超大景深毫...

NS系列半導體臺階儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC，具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率，同時，其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技...

NS系列半導體臺階高度測量儀器電動X/Y平臺（150mm×150mm）搭配8英寸晶圓載物臺，適配半導體晶圓、光伏基板等大尺寸樣品。可精準測量臺階高度（...

VT6000高精度共聚焦顯微鏡基于共聚焦技術，結合精密Z向掃描與智能3D建模算法，可實現對納米至微米級表面形貌的高精度測量，覆蓋光滑、粗糙、低反射至高反射等多樣...

CEM3000實驗室臺式掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。此外，該系列臺式電鏡也...

VT6000多功能共聚焦顯微鏡主要應用于半導體、光學膜材、顯示行業、超精密加工等諸多領域中的微觀形貌和輪廓尺寸檢測中，其次是對表面粗糙度、面積、體積等參數的檢測...

SuperViewW白光干涉光學膜厚測量儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。

中圖儀器CEM3000系列實驗室桌面型掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。此外，該...